GaAs Ired u. Foto - Transistor, programmierbarer Prüfer TLP504A-2
chip in electronics
,integrated components
TOSHIBA-Fotokupplung GaAs Ired u. Foto−Transistor
TLP504A, TLP504A−2
Programmierbare Prüfer Wechselstrom/DC−Input-Modul-Halbleiterrelais
Das TOSHIBA TLP504A und TLP504A−2 besteht aus einem photo−transistor, das optisch zu einer infrarotemittierenden Diode des Galliumarsenids verbunden wird.
Das TLP504A bietet zwei lokalisierte Kanäle in einem acht Führung Plastik-BAD-Paket an, während das TLP504A−2 vier lokalisierte Kanäle in einem Plastik-Paket des BADES sechzehn liefert.
• Collector−emitter-Spannung: 55 V (Min.)
• Gegenwärtiger Übertragungsfaktor: 50% (Min.) Rang GB: 100% (Min.)
• Isolierungsspannung: 2500 Vrms (Min.)
• UL erkannte: UL1577,
Dateinr. E67349
Pin Configurations (Draufsicht)
Absolute Maximalleistungen (Ta = 25°C)
| Eigenschaft | Symbol | Bewertung | Einheit | ||
| TLP504A | TLP504A−2 | ||||
| LED | Vorwärtsstrom | WENN | 60 | 50 | MA |
| Vorderes gegenwärtiges Herabsetzen | ΔIF/°C | −0.7 (Ta-≥ 39°C) | −0.5 (Ta-≥ 25°C) | MA/°C | |
| Pulsieren Sie vorwärts gegenwärtig | IFP | 1 (100μs Impuls, 100pps) | |||
| Sperrspannung | VR | 5 | V | ||
| Grenzschichttemperatur | Tj | 125 | °C | ||
| Detektor | Collector−emitter-Spannung | VCEO | 55 | V | |
| Emitter−collector-Spannung | VECO | 7 | V | ||
| Kollektorstrom | IC | 50 | MA | ||
| Kollektorverlustleistung (1 Stromkreis) | PC | 150 | 100 | mW | |
|
Kollektorverlustleistungsherabsetzen (1 Stromkreis Ta-≥ 25°C) |
ΔPC/°C | -1,5 | -1,0 | mW/°C | |
| Grenzschichttemperatur | Tj | 125 | °C | ||
| Lagertemperaturbereich | Tstg | −55~150 | °C | ||
| Betriebstemperaturbereich | Topr | −55~100 | °C | ||
| Führungslöttemperatur | Tsol | 260 (10 s) | °C | ||
| Gesamtpaketverlustleistung | Funktelegrafie | 250 | 150 | mW | |
|
Gesamtpaketverlustleistungsherabsetzen (Ta-≥ 25°C) |
ΔPT/°C | -2,5 | -1,5 | mW/°C | |
| Isolierungsspannung | BVS |
2500 (WECHSELSTROM, 1min., R.H.≤ 60%) (Anmerkung 1) |
Vrms | ||
Anmerkung: Unter Verwendung ununterbrochen unter schweren Lasten (z.B. die Anwendung von der hohen Temperatur/das gegenwärtig/Spannung und die signifikante Veränderung in der Temperatur, in etc.) kann dieses Produkt veranlassen, sich in die Zuverlässigkeit erheblich zu verringern, selbst wenn die Betriebsbedingungen (d.h. Betriebstemperatur/gegenwärtig/Spannung, etc.) innerhalb der absoluten Maximalleistungen sind.
Entwerfen Sie bitte die passende Zuverlässigkeit nach der Überprüfung des Toshiba-Halbleiter-Zuverlässigkeits-Handbuches („Vorkehrungs“/„behandelnd Konzept und Methoden herabsetzend ") und der einzelnen Zuverlässigkeitsangaben (d.h. Zuverlässigkeitsprüfungsbericht und geschätzte Durchfallquote, usw.).
Anmerkung 1: Gerät hielt zwei für ABTD-Terminal: LED-Seitenstifte schlossen zusammen und die Detektorseitenstifte kurz, die zusammen kurzgeschlossen wurden.
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