SN74ABT8646DL
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
Kategorie:
Integrierte Schaltungschips
Spezifikationen
Logiktyp::
Scan-Testgerät mit Bus-Empfänger und Registern
Produktkategorie:
Puffer u. Leitungstreiber
Fabrikbestand::
2640
Lieferanten-Gerätepaket::
28-SSOP
Packung / Koffer::
28-BSSOP (0,295", Breite von 7,50 mm)
Teilstatus::
Aktiv
Verpackung::
Schlauch
@ qty::
0
Betriebstemperatur::
-40 °C bis 85 °C
Mindestmenge::
1
Anzahl der Bits::
8
Reihe::
74ABT
Montageart::
Oberflächenbefestigung
Versorgungsspannung::
4.5 V ~ 5.5 V
Hersteller::
Texas Instruments
Einleitung
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