SN74ABTH18652APM
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Kategorie:
Integrierte Schaltungschips
Spezifikationen
Logiktyp::
Scan-Testgerät mit Transceiver und Registern
Produktkategorie:
Puffer u. Leitungstreiber
Fabrikbestand::
320
Lieferanten-Gerätepaket::
64-LQFP (10x10)
Packung / Koffer::
64-LQFP
Teilstatus::
Aktiv
Verpackung::
Tray
@ qty::
0
Betriebstemperatur::
-40 °C bis 85 °C
Mindestmenge::
1
Anzahl der Bits::
18
Reihe::
74ABTH
Montageart::
Oberflächenbefestigung
Versorgungsspannung::
4.5 V ~ 5.5 V
Hersteller::
Texas Instruments
Einleitung
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