Die Angabe des Zustands des Zustands der Zellstoffverbindung ist nicht erforderlich.
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Kategorie:
Integrierte Schaltungschips
Spezifikationen
Logiktyp::
Scan-Testgerät mit Bus-Transceivern
Produktkategorie:
Puffer u. Leitungstreiber
Fabrikbestand::
2000
Lieferanten-Gerätepaket::
24-SOIC
Packung / Koffer::
24-SOIC (0.295" , 7.50mm Breite)
Teilstatus::
Aktiv
Verpackung::
Band & Spule (TR)
@ qty::
0
Betriebstemperatur::
-40 °C bis 85 °C
Mindestmenge::
2000
Anzahl der Bits::
8
Reihe::
74ABT
Montageart::
Oberflächenbefestigung
Versorgungsspannung::
4.5 V ~ 5.5 V
Hersteller::
Texas Instruments
Einleitung
Die SN74ABT8245DWR, von Texas Instruments, sind Puffer & Line Drivers. Was wir anbieten haben einen wettbewerbsfähigen Preis auf dem Weltmarkt, die in Original- und neuen Teilen sind.Wenn Sie mehr über die Produkte erfahren oder einen niedrigeren Preis verlangen möchten, kontaktieren Sie uns bitte über den Online-Chat oder senden Sie uns ein Angebot!
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