SN74ABT18245ADLR
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Kategorie:
Integrierte Schaltungschips
Spezifikationen
Logiktyp::
Scan-Testgerät mit Bus-Transceivern
Produktkategorie:
Puffer u. Leitungstreiber
Fabrikbestand::
9000
Lieferanten-Gerätepaket::
56-SSOP
Packung / Koffer::
56-BSSOP (0,295", 7,50mm Breite)
Teilstatus::
Aktiv
Verpackung::
Band & Spule (TR)
@ qty::
0
Betriebstemperatur::
-40 °C bis 85 °C
Mindestmenge::
1000
Anzahl der Bits::
18
Reihe::
74ABT
Montageart::
Oberflächenbefestigung
Versorgungsspannung::
4.5 V ~ 5.5 V
Hersteller::
Texas Instruments
Einleitung
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